类别:逻辑 - 专用逻辑
规格:IC SCAN TEST DEV W/OBT 24-SOIC
产品封装:24-SOIC(0.295,7.50mm 宽)
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基本功能
制造商产品型号:SN74ABT8245DWR制造商:TI公司(德州仪器,Texas Instruments)描述:IC SCAN TEST DEV W/OBT 24-SOIC产品系列:逻辑 - 专用逻辑包装:卷带(TR),剪切带(CT)系列:74ABT零件状态:停产逻辑类型:扫描测试设备,带总线收发器供电电压:4.5V ~ 5.5V位数:8工作温度:-40°C ~ 85°C安装类型:表面贴装型产品封装:24-SOIC(0.295,7.50mm 宽)SN74ABT8245DWR | TI代理全新原装现货
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